集中講義「集積システム信頼性」



平成28年度前期の集中講義「集積システム信頼性」の日程が以下のとおり決定しました。

受講希望の方は,前期の履修登録期間内にMyもみじで履修登録を行ってください。



科目名:集積システム信頼性

単位数:2

講師:黒木 伸一郎 先生(ナノデバイス・バイオ融合科学研究所 准教授)

    マタウシュ ハンス ユルゲン 先生(ナノデバイス・バイオ融合科学研究所 教授)

    宮崎 誠一 先生(名古屋大学大学院工学研究科 教授)

日時及び場所:

平成28415日(金)3-7時限 404N講義室

      422日(金)3-7時限 404N講義室

      56日(金)3-7時限 404N講義室

      513日(金)3-7時限 404N講義室

      520日(金)3-7時限 404N講義室

      527日(金)3-7時限 404N講義室

テーマ:半導体集積回路(LSI)では100万個以上の素子を集積化しており,回路・素子・材料レベルでの高い信頼性が必要である。本講義ではこれらを総合的に理解・把握する。


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